1.试样
钨电极试样为直径 2.4 mm,长度175.2mm的钢材。
2.步骤
运用脉冲加热法同时测定钨电极的比热,半球型总发射量,常规光谱发射量以及电阻率。脉冲加热法 ,它包括将试样从室温电阻加热快速升至预测试 前的最大温度, 同时测定温度,电压降及经过样本的电流。直流电脉冲为150~1500A,由两个12一v 强功率电池串联联结。它能以 4000K/S的速率加热试样 。
将一只W-5%Re/W-26%Re,直径0.1mm热电偶内焊于试样中部以便于测定温度。在试样测定区域的尾部,间隔30 mm, 焊接两根0.1mm钨丝电位引线用作测定电压降。所有的测定工作均在真空中完成。
在PC机控制下完成试验,PC控制可用作获取实时数据以及对数据结果进行处理。经过试样测试区的电流、电压降、热电偶电动势以及高温计输出值等信息被记录在1~10KH2发送频率上。试样加热过程持续750s,而在冷却试样的初始阶段,每个试验过程记录了几千个数据点,在所测试的温度范围内产生500~1000个比热、电阻率、半球型总发射量、常规光谱发射量的数据。
在高温测试的试验过程中,单色光学高温仪位于0.9mm处稍靠近试样中心热电偶位置。高温仪测定范围涵盖试样表面方圆0.75mm.。
运用同步高温度测定法所收集的数据可确定常规光谱发射量。